Workshop Pulizia dei Componenti: Controllo e Lavaggio

SCOPRI IL FUTURO DELLA MICROSCOPIA E DELL’ANALISI DEL GRADO DI PULIZIA INDUSTRIALE!

Siamo entusiasti di invitarvi alla Giornata a Tema di Mercoledì 8 ottobre, un’occasione unica per esplorare le ultime innovazioni tecnologiche e vivere un’esperienza immersiva con la nuova strumentazione.

Cosa vi aspetta? Un team di esperti sarà a vostra completa disposizione per dimostrazioni pratiche, approfondimenti tecnici e per rispondere a tutte le vostre domande.

Un’opportunità concreta per toccare con mano soluzioni all’avanguardia e capire come migliorare i vostri processi produttivi.

Programma delle giornate:

SISTEMI PER L’ESTRAZIONE DEL CONTAMINANTE
MICROSCOPI PER LA MISURA SECONDO NORMATIVE ISO16232, VDA19 E ISO18413
PANORAMICA DELLE PRINCIPALI NORMATIVE E LORO RICHIESTE

Temi trattati:

Come tenere sotto controllo tutto il processo di produzione per garantire le specifiche di pulizia
Le migliori pratiche per misurare la pulizia dei componenti in conformità alle normative
Come creare e implementare standard di pulizia efficaci
Raggiungere gli obiettivi di pulizia richiesti dalle specifiche

Presentazione a cura di Giancarlo Parma
Advanced Workflow Specialist - Leica Microsystems

GUARDATE gli Strumenti disponibili per test e dimostrazioni live:

Leica DVM6

Leica DM6

Leica LIBS System

Leica Stereomicroscopio M205

Leica NEW Nuovo microscopio Visoria

Leica NEW Nuovo microscopio Digitale EMSPIRA

L’evento sarà completamente Gratuito

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